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统计型膜厚计

产品名称统计型膜厚计
型号 : LZ-373

数量 :
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    产品介紹

    型号 : LZ-373
    统计型膜厚计
     LZ-373可以用来测定磁性体及非磁性金属物上的被膜厚度量测。LZ-373包含了电磁膜厚计LE-373及涡电流膜厚计LH-373的所有功能，可针对多样的素材、多样的被膜量测，为最适合于现场使用的膜厚测定仪。
    测定方式 电磁诱导／涡电流式两用
    测定对象 磁性体上的非磁性被膜及非磁性金属上的绝缘被膜
    测定范围

    电磁诱导式：0~2500um或99.0mils

    涡电流式：0~1200um或47.0mils
    测定精度

    50um以下：±1um；50um以上1000um以下：±2%

    1000um以上：±3%
    最小解析 100um以下：0.1um；100um以上：1um
    符合规范

    电磁诱导式：JIS K5600-1-7、JIS H0401、ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840、BS 3900-C5 ASTM B499、ASTM D7091-5、ASTM E376

    涡电流式：JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501、ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、ISO 19840、BS 3900-C5、ASTM D7091-5、ASTM E376
    记忆容量 约39,000点
    检量曲线 具100条检量曲线记忆容量（电磁诱导式50条；涡电流式50条）
    测头型式 一点接触定压式（LEP-J、LHP-J）
    显示方式 具背光式LCD数值显示，最小解析0.1um
    外部输出 个人计算机(USB & RS-232C)；专用打印机(RS-232C)
    使用电源 单3碱性电池x4只
    消费电力 80mW(背光关闭时)
    电池寿命 约100小时(背光关闭、连续使用)
    操作温度 0~40℃
    附加机能 检量曲线选择、基体校零、数据删除、数据记忆、上下限设定、统计计算、选择显示、日期时间、自动关闭时间、背光亮度、背光时间、单位切换、数据输出、自动批号、测定方式、维修模式
    尺寸重量 75(W)x145(D)x31(H)mm、0.34kg
    标准附件 校正标准片x6片、标准片盒子、铁素材、铝素材、曲面固定器、携带皮套组、碱性电池x4只
    选购配件 校正标准片、LW-990测定台、VZ-380专用打印机、打印机传输线、计算机传输线、RS-232C & USB转换线、LDL-03数据管理软件



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