统计型膜厚计
产品介紹
电磁诱导式:0~2500um或99.0mils 涡电流式:0~1200um或47.0mils 50um以下:±1um;50um以上1000um以下:±2% 1000um以上:±3% 电磁诱导式:JIS K5600-1-7、JIS H0401、ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840、BS 3900-C5 ASTM B499、ASTM D7091-5、ASTM E376 涡电流式:JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501、ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、ISO 19840、BS 3900-C5、ASTM D7091-5、ASTM E376
型号 : LZ-373
统计型膜厚计
LZ-373可以用来测定磁性体及非磁性金属物上的被膜厚度量测。LZ-373包含了电磁膜厚计LE-373及涡电流膜厚计LH-373的所有功能,可针对多样的素材、多样的被膜量测,为最适合于现场使用的膜厚测定仪。
测定方式
电磁诱导/涡电流式两用
测定对象
磁性体上的非磁性被膜及非磁性金属上的绝缘被膜
测定范围
测定精度
最小解析
100um以下:0.1um;100um以上:1um
符合规范
记忆容量
约39,000点
检量曲线
具100条检量曲线记忆容量(电磁诱导式50条;涡电流式50条)
测头型式
一点接触定压式(LEP-J、LHP-J)
显示方式
具背光式LCD数值显示,最小解析0.1um
外部输出
个人计算机(USB & RS-232C);专用打印机(RS-232C)
使用电源
单3碱性电池x4只
消费电力
80mW(背光关闭时)
电池寿命
约100小时(背光关闭、连续使用)
操作温度
0~40℃
附加机能
检量曲线选择、基体校零、数据删除、数据记忆、上下限设定、统计计算、选择显示、日期时间、自动关闭时间、背光亮度、背光时间、单位切换、数据输出、自动批号、测定方式、维修模式
尺寸重量
75(W)x145(D)x31(H)mm、0.34kg
标准附件
校正标准片x6片、标准片盒子、铁素材、铝素材、曲面固定器、携带皮套组、碱性电池x4只
选购配件
校正标准片、LW-990测定台、VZ-380专用打印机、打印机传输线、计算机传输线、RS-232C & USB转换线、LDL-03数据管理软件